案例研究/分享
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產品 ICI Fail & Pin low life time
2024/01/11
產品 ICI Fail & Pin low life time
針尖雖無鈍化，但透過X-ray、FDR相關儀器分析，發現針尾鍍金層脫落，容易造成ICI Fail。
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Socket SB21512 Fail Issue
2024/01/11
Socket SB21512 Fail Issue
NPI工程時有3ea socket 有SB21512 Fail找不出真因。品捷協助發現客戶的socket有沾錫，重新清潔後上機手測依然發生異常，交叉驗證其他顆Corr IC 手測pass。經確認此易造成異常之Corr IC，其測試讀值相較於pass的Corr IC更高。
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SLT 測試 low yield
2024/01/11
SLT 測試 low yield
客戶回饋Pin Life time 約70K，經品捷確認後發現同一PCB & socket 重新組裝多次，每次的手測測試結果不相同，經調查找出PCB的 pad已有刺穿，需進行更換。
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SB5XXX LDO 項 Item 測試 Fail
2024/01/11
SB5XXX LDO 項 Item 測試 Fail
客戶回饋容易有 LDO 項 Fail，經手測確認會穩定 pass，無 LDO 項 fail。品捷與客戶對齊後，使用 contact mool 易產生 LDO 項問題，確認後發現原因為客戶之 clamp force 不夠，造成 contact 不佳。
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Clean Pad Drop Error 異常
2024/01/11
Clean Pad Drop Error 異常
客戶回饋 clean pad 於 NEST 內破真空後不會掉落，經品捷確認後發現 NEST 內為倒圓角，而 clean pad 外型為直角，故造成干涉。
