SLT 測試 low yield

品捷協助客戶判斷Pin Life time異常問題

客戶回饋Pin Life time 約70K，經品捷確認後發現同一PCB & socket 重新組裝多次，每次的手測測試結果不相同，經調查找出PCB的 pad已有刺穿，需進行更換。

問題描述

 ✔ 事件：User 反應 Pin 上機異常
 ✔ 測試環境溫度：常溫
 ✔ 測試Site數：12 Site
 ✔ 目標：確認是否為 Pin issue，導致 low yield 問題產生

驗證一：調整Contact force + Socket清潔實驗

 ✔ 目的：參照FT Handler設定，調整SLT Contact force至19kg，確認調整Contact force + 清潔socket，是否能改善low yield
 ✔ 驗證方法：
      1. 選定驗證機台
      2. Contact force 15kg→19kg
      3. 清潔方式：水晶刷+酒精
      4. Monitor 各 site 良率變化
 ✔ 驗證結果： Fail，調整 Contact force+ 清潔無法改善 low yield 問題。

再次確認

 ✔ User提出重裝Socket易發生Contact不穩的問題
 ✔ 以Site12進行重新拆裝socket，驗證是否會有Contact不穩的問題
     第一次拆裝socket結果：Fail
     第二次拆裝socket結果：Pass
 ✔ 確認Socket guide pin與測試板guide hole有無定位異常問題：無異常
 ✔ 確認程式進版時，有更換測試版。檢查線上、庫內測試版有無異常：

配件檢查：SLT 測試板
測試板 Pad 實際確認
檢查結果	測試板Pad已出現磨損、刺穿的情形，依照測試廠內rule，判斷為C-~D。

比對分析

FT LB、SLT 測試板 Pad 比對分析
	FT	SLT
Socket 針尾遇壓值	0.15mm	0.15mm
Pad 實際確認
比對分析	LB Pad些微磨損，仍保有鍍層扎痕較淺。	測試板Pad已出現磨損、刺穿的情形，扎痕較深。
	B	C-~D

結論

 ✔比對分析結果：

    使用相同socket、相同遇壓值情形下，SLT 測試板Pad已出現凹陷、磨損，且依照客戶廠內rule判定為C-~D級。易發生Contact不穩的情形

 ✔後續處理：

     1. 確認此型號SLT異常問題非Pin issue

     2. 提出目前SLT測試板異常問題，User後續與客戶討論處理方式